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TQZ HALT 室 | TRUMPF

HALT 室

HALT(高加速寿命测试)用于测定系统单元的故障特性,该系统单元均装配有电子、电气、机械、机电元件或类似部件。

其间,这些单元将经受极端热力、机械和/或产品特有的压力环境。测试期间将在交互过程中分析故障原因并进行改进。

在测试与认证中心内,通快霍廷格电子将在公司自有的 HALT 室中检测所有新研发产品。由此我们确保最佳上市产品质量。

装备

THERMOTRON AST-165/RSL-48

振动

  • 最高级别 50 Grms
  • 噪音剖面 2 Hz ~ 10 kHz
  • 激发

- 3 线性

- 3 旋转式

温度

  • 最小 - 100  C
  • 最大 +200  C
  • 变化速率 > 70 K/min
  • 空气流量 2830 L/s
  • 热功率 108 kW
  • 冷却装置 LN

工作区域尺寸

  • 宽 137 cm
  • 深 142 cm
  • 高 239 cm
  • 最大载重 700 kg

您的优势

您将同样受益于 HALT 方法的优势,并可使用通快霍廷格电子的 HALT 室测试您的产品。借此,您可及早识别潜在的产品设计缺陷,缩减研发成本与时间。更多相关信息敬请参阅可供下载的宣传册。

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