HALT（高加速壽命測試）用於測定系統單元的故障特性，該系統單元均裝配有電子、電氣、機械、機電元件或類似部件。

其間，這些單元將經受極端熱力、機械和/或產品特有的壓力環境。測試期間將在交互過程中分析故障原因並進行改進。

在測試與認證中心內，TRUMPF霍廷格電子將在公司自有的HALT室中檢測所有新研發產品。由此我們確保最佳上市產品品質。

您將同樣受益於HALT方法的優勢，並可使用TRUMPF霍廷格電子的HALT室測試您的產品。借此，您可及早識別潛在的產品設計缺陷，縮減研發成本與時間。更多相關資訊敬請參閱可供下載的宣傳冊。