고가속 수명 테스트는 전자, 전기, 기계적, 전자 기계적 또는 그와 비슷한 요소가 장착된 시스템 내부의 오류 조사에 이용됩니다.

유닛은 극도의, 열에 의한, 기계적인 그리고/또는 제품에 특화된 스트레스 상황에 노츨되어 있습니다. 테스트가 진행되는 동안 상호 프로세스 내의 오류 원인을 분석하고 오류 수정을 진행하십시오.

TRUMPF Hüttinger는 테스트 및 품질 검증 센터 내의 회사 자체적인 고가속 수명 테스트 공간에서 모드 새로운 개발을 진행합니다. 이를 통해 귀사는 시장 진입을 위한 최적화된 품질을 보장합니다.

고가속 수명 테스트 절차의 장점을 누리고 귀하의 제품 점검을 위해 TRUMPF Hüttinger의 고가속 수명 테스트 공간을 이용하십시오. 이를 통해 제품 디자인의 잠재적인 약점을 조기에 인식하고 개발에 드는 비용 및 시간을 줄일 수 있습니다. 더 많은 정보는 다운로드를 통한 플라이어에서 확인할 수 있습니다.